Galaxy Fold: Samsung interveniert, kritischer Test verschwindet
Jonny Random, den 26. April 2019
Samsung hat einen Test des neuen falt-Smartphones Galaxy Fold vom Netz nehmen lassen. Dieser war geradezu vernichtend ausgefallen. iFixit, wo der Report erstellt worden war, erklärte jedoch, ihn freiwillig offline genommen zu haben.
Samsungs neues faltbares Smartphone Galaxy Fold wird bekanntlich nicht Anfang Mai weltweit in die Läden kommen. Der Grund ist ein massives Designproblem bei dem innovativen Falt-Mechanismus der beiden OLED-Displays, MacNotes berichtete. Nun ist Samsung allerdings auch gegen einen Test vorgegangen, der die Schwächen des Geräts in aller Deutlichkeit gezeigt hat.
Dieser war von Reparaturspezialisten von iFixit verfasst worden und er bestätigte, was man dort bereits zuvor festgestellt hatte: Das faltbare Display ist höchst störanfällig. Schon wenige Schmutzpartikel können die OLED-Displays irreparabel beschädigen und diesen Schmutzteilchen ist offenbar quasi freier Eintritt gewährt worden.
Schlitze im Gehäuse erlauben Eindringen von Staub und Dreck
Wie sich nämlich gezeigt hatte, lässt sich das Galaxy Fold offenbar nicht bauen, ohne dass zwei etwa sieben mm tiefe Schlitze im Gehäuse verbleiben. Durch diese kann Staub eindringen und anschließend die Bildschirme beschädigen.
iFixit hatte diese Beobachtungen an einem Galaxy Fold gemacht, das nicht direkt bei Samsung, sondern einem dritten Partner bezogen worden war. Dieser war von Samsung gedrängt worden, für das Verschwinden des Testberichts zu sorgen. Wie iFixit später mitteilte, habe man den Bericht freiwillig offline genommen und zolle den Leistungen der Ingenieure von Samsung für die Entwicklung dieses anspruchsvollen Geräts Respekt.
Es ist nicht der erste Fall dieser Art: Auch Redakteure unserer Gruppe wurden bereits von Agenturen kontaktiert, die Samsung in Deutschland vertreten. Es wurde darauf gedrungen, bestimmte Details in bestimmten Artikeln zu ändern.
Dessen ungeachtet bleibt unsere Berichterstattung wie gewohnt unabhängig und kritisch.